技術(shù)文章
原子吸收光譜法的基本原理
從光源發(fā)射出具有待測(cè)元素特征譜線的光,通過(guò)試樣蒸氣時(shí),被蒸氣中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收,吸收程度與被測(cè)元素的含量成正比。所以,可以根據(jù)測(cè)得的吸光度求得試樣中被測(cè)元素的含量。
原子吸收光譜法中常用的定量方法有:
標(biāo)準(zhǔn)曲線法是用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)配制一系列已知濃度的標(biāo)準(zhǔn)試樣,在標(biāo)準(zhǔn)條件下,測(cè)得每一濃度對(duì)應(yīng)的吸光度值,以吸光度對(duì)濃度作圖,繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。在相同條件下測(cè)定樣品吸光度,從標(biāo)準(zhǔn)曲線上讀取樣品濃度。
優(yōu)點(diǎn):適用范圍廣,快速簡(jiǎn)便,適合大批量樣品的測(cè)定。
不足:實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)確度受基體干擾嚴(yán)重。
(2)標(biāo)準(zhǔn)加入法
標(biāo)準(zhǔn)加入法是在數(shù)個(gè)等分的試樣中分別加入呈比例的標(biāo)準(zhǔn)試樣,然后稀釋到一定體積。根據(jù)測(cè)定的吸光度值,繪制吸光度A-c(濃度)曲線。用外推法求得稀釋后試樣中待測(cè)物的濃度。
優(yōu)點(diǎn):可以減小或消除基體效應(yīng)的干擾,提高測(cè)定準(zhǔn)確度。
不足:工作量大
(3)內(nèi)標(biāo)法
內(nèi)標(biāo)法是在試樣各含量不同的一系列標(biāo)準(zhǔn)試樣中,分別加入固定量的純物質(zhì),即內(nèi)標(biāo)物。在標(biāo)準(zhǔn)條件下測(cè)定分析元素和內(nèi)標(biāo)元素的吸光度比,以此比值對(duì)濃度作圖,繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線,在同樣條件下,測(cè)定試樣中被測(cè)元素和內(nèi)標(biāo)元素的吸光度比值,在從標(biāo)準(zhǔn)曲線上讀取對(duì)應(yīng)的濃度。
優(yōu)點(diǎn):可以減少實(shí)驗(yàn)條件按變動(dòng)引起的隨機(jī)誤差,提高精密度。
不足:必須使用雙通道原子吸收光譜儀,使用上受到限制。